Микроскопите са научни инструменти, използвани за увеличаване на малки обекти или детайли, които не се виждат с просто око. Има няколко вида микроскопи, всеки със свои уникални функции и приложения. Ето някои често срещани видове микроскопи и техните разлики:
Оптични микроскопи: Оптичните микроскопи използват видима светлина и система от лещи за увеличаване и наблюдение на проби. Има няколко подвида оптични микроскопи, включително:
Комбинирани микроскопи: Тези микроскопи използват множество лещи за увеличаване на пробата. Те се използват често в биологията и медицината.
Стерео микроскопи: Известни също като дисекционни микроскопи, стереомикроскопите осигуряват триизмерен изглед на пробата и често се използват за дисекция или изследване на по-големи проби.
Флуоресцентни микроскопи: Тези микроскопи използват специфични дължини на вълните на светлината, за да възбудят флуоресцентни молекули в пробата, което позволява визуализирането на специфични структури или молекули.
Електронни микроскопи: Електронните микроскопи използват лъч от електрони вместо светлина, за да увеличат пробата. Те предлагат много по-голямо увеличение и разделителна способност в сравнение с оптичните микроскопи. Има два основни вида електронни микроскопи:
Сканиращи електронни микроскопи (SEM): SEM произвеждат подробно, триизмерно изображение на пробата чрез сканиране на повърхността с фокусиран електронен лъч. Те се използват често в материалознанието и биологията.
Трансмисионни електронни микроскопи (ТЕМ): ТЕМ предават лъч от електрони през тънък участък от пробата, създавайки изображение с висока разделителна способност. Те често се използват за изследване на вътрешната структура на клетки и материали.
Сканиращи сондови микроскопи: Сканиращите сондови микроскопи използват физическа сонда, за да взаимодействат с пробата, предоставяйки подробна информация за нейната повърхност. Има различни видове сканиращи сондови микроскопи, включително:
Микроскопи с атомна сила (AFM): AFM използват малка сонда, която сканира повърхността на пробата, измервайки силите между сондата и пробата. Те могат да предоставят топографска информация в атомен мащаб.
Сканиращи тунелни микроскопи (STM): STM измерват потока от електрони между сондата и пробата, създавайки изображение на повърхността на атомно ниво.